[发明专利]一种测量设置在金属物件上的金属层的厚度的方法和装置有效
申请号: | 200980158128.8 | 申请日: | 2009-03-17 |
公开(公告)号: | CN102356296A | 公开(公告)日: | 2012-02-15 |
发明(设计)人: | 斯滕·林德;伦纳特·特格尔 | 申请(专利权)人: | ABB公司 |
主分类号: | G01B7/10 | 分类号: | G01B7/10 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 朱胜;李春晖 |
地址: | 瑞典韦*** | 国省代码: | 瑞典;SE |
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摘要: | 本发明涉及一种用于测量设置在金属物件(1)上的金属层的厚度(2)的方法和装置。金属层的电阻率(p1)不同于金属物件的电阻率(p2)。该装置包括:第一设备(4,7),其被布置用于在靠近金属层附近产生磁场,并产生磁场变化使得在金属层的表面感生出电流;第二装置(5,8),其被布置用于在比感生电流传播通过金属层的时间长的时间期间测量由感生电流引起的在金属层外的磁场变化;以及计算单元(9),其被配置用于接收所测量的磁场变化并基于层的厚度和所测量的磁场变化值之间的数学关系来确定层的厚度(d)。 | ||
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【主权项】:
一种用于测量设置在金属物件(1)上的金属层(2)厚度的方法,其中所述金属层的电阻率(ρ1)不同于金属物件的电阻率(ρ2),并且所述方法包括:在靠近所述金属层的附近产生磁场,使所述磁场产生变化使得在所述金属层的表面感生出电流,在比电流传播通过所述金属层所用的时间长的时间期间测量由感生电流所引起的在所述金属层外的磁场变化,基于所述层的厚度和所述磁场变化的测量值之间的数学关系确定所述层的厚度(d)。
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