[发明专利]功率用半导体装置有效
申请号: | 200980159009.4 | 申请日: | 2009-04-28 |
公开(公告)号: | CN102414825A | 公开(公告)日: | 2012-04-11 |
发明(设计)人: | 中田和成 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/3205;H01L21/60;H01L23/52;H01L29/739 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 闫小龙;王忠忠 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及功率用半导体装置。栅极电极(26)用于控制流过半导体层(SL)的电流。栅极绝缘膜(29)将半导体层(SL)与栅极电极(26)彼此电绝缘。导体部(24)设置在半导体层(SL)上且与半导体层(SL)电连接。层间绝缘膜(25)以导体部(24)与栅极电极(26)电绝缘的方式设置在栅极电极(26)上。缓冲绝缘膜(23)覆盖导体部(24)及层间绝缘膜(25)上的一部分区域并且由绝缘体构成。电极层(21)具有位于导体部(24)露出的区域上的布线部分(21w)及位于缓冲绝缘膜(23)上的焊盘部分(21p)。由此,能够抑制引线(22)连接到焊盘部分(21p)时对IGBT的损伤。此外,能够防止电流集中引起的破坏的产生,能够处理更大的功率。 | ||
搜索关键词: | 功率 半导体 装置 | ||
【主权项】:
一种功率用半导体装置,其特征在于,具有:半导体层(SL);栅极电极(26),用于对流过所述半导体层(SL)的电流进行控制;栅极绝缘膜(29),将所述半导体层(SL)以及所述栅极电极(26)彼此电绝缘;导体部(24),设置在所述半导体层(SL)上,并且与所述半导体层(SL)电连接;层间绝缘膜(25),以所述导体部(24)与所述栅极电极(26)电绝缘的方式设置在所述栅极电极(26)上;缓冲绝缘膜(23),覆盖所述导体部(24)以及层间绝缘膜(25)上的一部分区域,并且由绝缘体构成;以及电极层(21),具有位于所述导体部(24)露出的区域上的布线部分(21w)和位于所述缓冲绝缘膜(23)上的焊盘部分(21p)。
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