[发明专利]用于测试开关单元的设备有效
申请号: | 200980159881.9 | 申请日: | 2009-06-16 |
公开(公告)号: | CN102460195A | 公开(公告)日: | 2012-05-16 |
发明(设计)人: | 贡纳尔·阿斯普隆德 | 申请(专利权)人: | ABB技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/317 | 分类号: | G01R31/317;H02M7/483;H02M7/49 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 陈炜;李德山 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | 一种用于测试被配置成级联型多电平变流器的部件的开关单元(7,7′)的功能并且具有至少一个储能电容器(21)的测试设备,所述测试设备包括所谓的背靠背电路,所述背靠背电路具有在两个相臂(23,24)中串联连接的所述开关单元,所述两个相臂(23,24)通过各自相臂的中点(26,27)互连。相对于打算在开关单元为其而设计的那个级联型多电平变流器的相臂中串联连接的开关单元的数量而言,所述设备的每个相臂中的开关单元的数量被减少。所述设备的两个相臂中的每一个相臂均具有电感装置,所述电感装置的电感与所述级联型多电平变流器的相臂中的电感装置的电感基本上为相同大小。在所述互连中至少布置有一个电容器(25)。装置(13)被配置成控制开关单元的半导体器件以用于改变半导体器件的开关状态,装置(28)被布置成用于在进行这样的控制时测量通过所述设备的相臂的电流。 | ||
搜索关键词: | 用于 测试 开关 单元 设备 | ||
【主权项】:
一种用于测试被配置成级联型多电平变流器(1)的部件的关断型半导体器件的功能的测试设备,其特征在于,所述设备包括所谓的背靠背电路(14),所述背靠背电路(14)具有两个相臂(23,24),其中每个相臂包括:至少两个开关单元(7,7′)的串联连接,其中每个开关单元包括至少一个储能电容器(21)和串联连接的至少两个半导体组件,所述半导体组件中的每一个均具有所述关断型半导体器件(17,18)中的一个以及与该关断型半导体器件反并联连接的续流二极管(19,20),以及电感装置(22′),所述电感装置(22′)具有与所述级联型多电平变流器的相臂中的电感装置的电感基本上相同大小的电感,以及位于所述至少两个开关单元之间的中点(26,27),其中,所述背靠背电路还包括布置在所述两个相臂(23,24)的中点(26,27)之间的互连中的至少一个电容器(25),并且其中所述设备还包括控制装置(13)和测量装置(28),所述控制装置(13)被配置成控制所述开关单元(7,7′)的半导体器件(17,18),以在所述中点(26,27)获得确定的交流电压,所述测量装置(28)用于在进行所述控制时测量通过所述相臂(23,24)中的至少一个的电流。
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