[发明专利]电子材料用Cu-Ni-Si-Co系铜合金和其制造方法无效
申请号: | 200980161688.9 | 申请日: | 2009-09-28 |
公开(公告)号: | CN102549180A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 桑垣宽;江良尚彦 | 申请(专利权)人: | JX日矿日石金属株式会社 |
主分类号: | C22C9/06 | 分类号: | C22C9/06;C22C9/00;C22C9/01;C22C9/02;C22C9/04;C22C9/10;C22F1/08;C22F1/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 蔡晓菡;高旭轶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供适合作为电子材料用的铜合金的机械特性和电特性、且机械特性均一的Cu-Ni-Si-Co系合金。电子材料用的铜合金,其含有Ni:1.0~2.5质量%、Co:0.5~2.5质量%、Si:0.3~1.2质量%,剩余部分由Cu和不可避免的杂质构成,其中,平均晶粒直径为15~30μm,每0.5mm2观察视野的最大晶粒直径与最小晶粒直径的差的平均值为10μm以下。 | ||
搜索关键词: | 电子 材料 cu ni si co 铜合金 制造 方法 | ||
【主权项】:
电子材料用铜合金,其含有Ni:1.0~2.5质量%、Co:0.5~2.5质量%、Si:0.3~1.2质量%,剩余部分由Cu和不可避免的杂质构成,该电子材料用铜合金的平均晶粒直径为15~30μm,每0.5mm2观察视野的最大晶粒直径与最小晶粒直径的差的平均值为10μm以下。
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