[发明专利]对电子器件中的损耗的响应有效

专利信息
申请号: 200980162323.8 申请日: 2009-11-06
公开(公告)号: CN102597906A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 迈克尔·普里尔;安东·罗森;约西·绍沙尼 申请(专利权)人: 飞思卡尔半导体公司
主分类号: G06F1/26 分类号: G06F1/26;G06F1/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 李宝泉;周亚荣
地址: 美国,*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种电子器件(10),包括:对损耗效应敏感的第一部件(12),该第一部件(12)的操作取决于操作参数(V1);具有导通状态和截止状态的第二部件(14)。电子器件(10)还包括用于更新对第二部件(14)处于导通状态的累积时间的估计的时间估计器(16);用于基于累积时间估计来控制操作参数以便于对期望损耗效应进行响应的控制器(18)。第一部件(12)和第二部件(14)可以是相同的,或者第一部件(12)可以具有与第二部件(14)的导通状态相关的导通状态。操作参数可以是例如下述中一个的电平或幅度或校正值:施加在第一部件(12)处的电压、馈送到第一部件(12)的电流以及提供给第一部件(12)的功率。还公开一种操作这样的电子器件(10)的方法。
搜索关键词: 电子器件 中的 损耗 响应
【主权项】:
一种电子器件(10),包括:第一部件(12),所述第一部件(12)对损耗效应敏感,所述第一部件(12)的操作取决于操作参数(V1);第二部件(14),所述第二部件(14)具有导通状态和截止状态;时间估计器(16),所述时间估计器(16)用于更新对所述第二部件(14)处于导通状态的累积时间的估计;以及控制器(18),所述控制器(18)用于基于累积时间估计来控制所述操作参数,以便对期望损耗效应进行响应。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于飞思卡尔半导体公司,未经飞思卡尔半导体公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200980162323.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top