[发明专利]半导体晶圆的定位装置有效
申请号: | 201010001803.0 | 申请日: | 2010-01-05 |
公开(公告)号: | CN101777509A | 公开(公告)日: | 2010-07-14 |
发明(设计)人: | 山本雅之;池田谕 | 申请(专利权)人: | 日东电工株式会社 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种半导体晶圆的定位装置。使具有沿外周部由环状凸部构成的加强部的晶圆的、形成在该加强部内侧的图案面朝下地、将该晶圆载置于包括具有大于等于晶圆外形的尺寸的晶圆载置面的保持载物台1上,使多根引导销进入到形成于加强部的各缺口中而进行中心对准。之后,一边在吸附保持晶圆的加强部的状态下使保持载物台旋转,一边由光传感器检测设于晶圆外周的定位部。 | ||
搜索关键词: | 半导体 定位 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体晶圆的定位装置,用于在外周具有由环状凸部构成的加强部、在该加强部内侧的扁平凹部形成有电路图案、并且在该加强部以切去其局部的方式形成有定位部的半导体晶圆,其特征在于,上述装置包括:保持载物台,其能够旋转,包括具有大于等于上述半导体晶圆外形的尺寸的晶圆载置面;光学传感器,其用于对上述电路图案的面朝下地载置于保持载物台上的半导体晶圆外周的上述定位部进行检测;驱动机构,其用于使上述保持载物台旋转;控制部,其根据上述光学传感器的检测结果进行半导体晶圆的对位。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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