[发明专利]试剂调制装置、检体测定装置以及试剂调制方法有效
申请号: | 201010002042.0 | 申请日: | 2010-01-07 |
公开(公告)号: | CN101816906A | 公开(公告)日: | 2010-09-01 |
发明(设计)人: | 中西利志;大久保孝一;尾黑昌彦;朝原友幸 | 申请(专利权)人: | 希森美康株式会社 |
主分类号: | B01F15/04 | 分类号: | B01F15/04;G01N35/00;G01N1/38 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 许海兰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种试剂调制装置、检体测定装置以及试剂调制方法,调制向测定检体的测定装置供给的试剂,其特征在于包括:第1液体存储部,存储第1液体;试剂存储部,存储所调制的试剂,该试剂包括上述第1液体和与上述第1液体不同的第2液体;第1液体废弃部,废弃存储于上述第1液体存储部中的上述第1液体;以及控制部,测量上述第1液体在上述第1液体存储部中的滞留时间,控制上述第1液体废弃部,以便在上述滞留时间达到规定时间后,废弃存储于上述第1液体存储部中的上述第1液体。 | ||
搜索关键词: | 试剂 调制 装置 测定 以及 方法 | ||
【主权项】:
一种调制向测定检体的测定装置供给的试剂的试剂调制装置,其特征在于包括:第1液体存储部,存储第1液体;试剂存储部,存储所调制的试剂,该试剂包括上述第1液体和与上述第1液体不同的第2液体;第1液体废弃部,废弃存储于上述第1液体存储部中的上述第1液体;以及控制部,测量上述第1液体在上述第1液体存储部中的滞留时间,并且控制上述第1液体废弃部,以便在上述滞留时间达到规定时间后,废弃存储于上述第1液体存储部中的上述第1液体。
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