[发明专利]一种投影物镜数值孔径测量装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 201010022408.0 申请日: 2010-01-04
公开(公告)号: CN102116706A 公开(公告)日: 2011-07-06
发明(设计)人: 马明英;王帆 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 代理人: 王光辉
地址: 201203 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种投影物镜数值孔径测量装置,包括:物面基底;物面基底入射光一侧具有散射元件,将入射光均匀散射在投影物镜;物面基底另一侧设计有针孔标记,针孔标记将入射光衍射经投影物镜成像在像面;投影物镜像面侧安装一移动台,该移动台可进行xy向高精度步进运动;以及移动台上安装探测器。测量方法包括如下步骤:根据投影物镜数值孔径设定值选择散射元件散射角;将掩模版上针孔标记移动到物面视场;将探测器移动到像面视场;采集光强分布图形;计算投影物镜数值孔径。使用本发明的一种原位测量投影物镜数值孔径的方法,实现了物镜数值孔径的原位与在线测量,同时测量方法简单、方便。
搜索关键词: 一种 投影 物镜 数值孔径 测量 装置 测量方法
【主权项】:
一种投影物镜数值孔径测量装置,其特征在于包括:物面基底;物面基底入射光一侧具有散射元件,将入射光均匀散射在投影物镜;物面基底另一侧设计有针孔标记,针孔标记将入射光衍射经投影物镜成像在像面;投影物镜像面侧安装一移动台,该移动台可进行xy向高精度步进运动;以及移动台上安装探测器。
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