[发明专利]在并行测试机台上实现芯片频率微调的方法

摘要

本发明公开了一种在并行测试机台上实现芯片频率微调的方法，在并行测试机台的程序中将写前一档补正数据向量和读下一档读时间向量合并为一个测试向量，得到多个测试向量，然后并行测试机台依次执行所述多个测试向量，不断循环直到同测对象集合中所有被测的芯片全部失效剔除或到循环结束，最后将为通过状态的硬件寄存器对应的测试通道连接的被测芯片中最后写入的芯片补正数据激活，各被测芯片中的时钟周期微调电路根据最后写入的芯片补正数据对时钟周期进行微调。本发明能对多芯片进行频率同测。

主权项

一种在并行测试机台上实现芯片频率微调的方法，其特征在于，包括以下步骤：一.在并行测试机台的程序中建立芯片补正数据同时钟周期微调范围对应表，分为第一档、第二档、……、第N档，N为正整数，第一档中，第一时钟周期微调范围B1～B2同第一芯片补正数据A1对应，第二档中，第二时钟周期微调范围B2～B3同第二芯片补正数据A2对应，第三档中，第三时钟周期微调范围B3～B4同第三芯片补正数据A3对应，……，第N档中，第N时钟周期微调范围BN～BN+1同第N芯片补正数据AN对应；B1＞B2＞B3＞……＞BN+1，各芯片补正数据A1，A2，A3，……AN对应的对芯片时钟周期的微调值依次减小；二.在并行测试机台的程序中将写前一档补正数据向量和读下一档读时间向量合并为一个测试向量，形成第一个测试向量、第二个测试向量、……、第N个测试向量，即把经过所述芯片补正数据同时钟周期微调范围对应表中的后一档的时钟周期微调范围以内的读时间之后再向被测芯片发送第二测试指令的读下一档读时间向量，和写前一档的时钟周期微调范围对应的芯片补正数据到被测芯片的写前一档补正数据向量两个指令向量依序分别合并为多个测试向量；即将写第一档补正数据向量A1和读第二档读时间向量合并为第一个测试向量，将写第二档补正数据向量A2和读第三档读时间向量合并为第二个测试向量，……，将写第N档补正数据向量AN和读第N+1档读时间向量合并为第N个测试向量；三.在并行测试机台的程序中将多个被测芯片的经过初始频率范围的检测后的测试状态赋值给在所述程序中的软件寄存器变量；设置并行测试机台的程序中的软件计数器变量周期值为N；四.所述程序将软件寄存器变量，赋值给并行测试机台的硬件寄存器，从而来设定哪些测试通道所接的芯片为被测试芯片，为通过状态的硬件寄存器对应的测试通道所接的芯片为被测试芯片；并将并行测试机台的程序中软件计数器变量清零；五.并行测试机台执行当前的测试向量；并使所述程序中软件计数器加1；六.并行测试机台监测各被测芯片的反馈数据波形，得到各芯片测试状态，将各芯片测试状态分别赋值给各芯片所接测试通道相对应的硬件寄存器，从而来设定哪些测试通道所接的芯片为被测试芯片，为通过状态的硬件寄存器对应的测试通道所接的芯片为被测试芯片；七.如果并行测试机台的程序中软件计数器的值小于等于N，则将下一个测试向量作为当前测试向量，进行步骤五；如果软件计数器的值大于N，则进行步骤八；八.所述程序将软件寄存器变量中保存的各被测芯片经过初始频率范围检测后的测试状态，赋值给并行测试机台的硬件寄存器；九.并行测试机台将为通过状态的硬件寄存器对应的测试通道连接的被测芯片中最后写入的芯片补正数据激活，各被测芯片中的时钟周期微调电路根据最后写入的芯片补正数据对时钟周期进行微调。