[发明专利]一种光谱分析方法有效

专利信息
申请号: 201010033922.4 申请日: 2010-01-06
公开(公告)号: CN101819168A 公开(公告)日: 2010-09-01
发明(设计)人: 周俊武;徐宁;李杰;赵建军;尚海洋;杨树亮;徐晓东 申请(专利权)人: 北京矿冶研究总院
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223;G06F17/00
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人: 郑立明;孟丽娟
地址: 100044 北京市西直*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例涉及元素光谱分析领域一种光谱分析方法,利用寻峰算法锁定谱峰的峰位,作为高斯函数的均值初始值;以所述谱峰的峰位对应的峰值作为高斯函数的系数初始值;在全能谱范围内计算所有谱峰宽度下的拟合谱峰面积和原始谱峰面积的误差,根据误差最小值对应的谱峰宽度计算高斯函数的方差初始值;在均值、系数及方差取值范围内,计算均值、系数及方差在每种取值下的拟合谱峰面积与原始谱峰面积的误差,所有误差中计算最小的误差所对应的均值、系数及方差作为高斯函数的最终特征参数;使用所述最终特征参数对应的高斯函数进行光谱分析。本发明实施例提高了光谱峰的重现性,为后续的元素定性、定量分析提供更加准确、翔实的数据。
搜索关键词: 一种 光谱分析 方法
【主权项】:
一种光谱分析方法,其特征在于,包括:利用寻峰算法锁定谱峰的峰位,作为高斯函数的均值初始值;以所述谱峰的峰位对应的峰值作为高斯函数的系数初始值;在全能谱范围内计算所有谱峰宽度下的拟合谱峰面积和原始谱峰面积的误差,根据误差最小值对应的谱峰宽度计算高斯函数的方差初始值;在均值、系数及方差取值范围内,计算均值、系数及方差在每种取值下的拟合谱峰面积与原始谱峰面积的误差,所有误差中计算最小的误差所对应的均值、系数及方差作为高斯函数的最终特征参数;使用所述最终特征参数对应的高斯函数进行光谱分析。
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