[发明专利]一种热真空环境测试力矩值修正方法有效

专利信息
申请号: 201010039727.2 申请日: 2010-01-11
公开(公告)号: CN101788354A 公开(公告)日: 2010-07-28
发明(设计)人: 孙建辉;单晓杭;潘柏松;梁利华 申请(专利权)人: 浙江工业大学
主分类号: G01L5/00 分类号: G01L5/00
代理公司: 杭州天正专利事务所有限公司 33201 代理人: 王兵;王利强
地址: 310014 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种热真空环境测试力矩值修正方法,两个相同的磁流体密封轴同轴安装在真空罐的两侧,所述两个磁流体密封轴各安装一个转矩传感器。首先通过常温常压下测试每个磁流体密封轴摩擦力矩,然后通过将两个磁流体密封轴直接连接,测试两个磁流体密封轴作为一个整体在热真空环境下测试总的摩擦力矩,由上面两次测试结果计算两个磁流体密封轴在热真空环境下与常温常压下的摩擦力矩变化量。由此可获得每个磁流体密封轴在热真空环境下的摩擦力矩值。本发明提供一种能够有效修正力矩值的热真空环境测试力矩值修正方法。
搜索关键词: 一种 真空 环境 测试 力矩 修正 方法
【主权项】:
一种热真空环境测试力矩值修正方法,其特征在于:两个相同的磁流体密封轴同轴安装在真空罐的两侧,所述两个磁流体密封轴各安装一个转矩传感器,所述力矩值修正方法包括以下步骤:(1)、在常温常压下,一根磁流体密封轴与驱动机构连接,另一根磁流体密封轴与加载机构连接,测量两个转矩传感器的差值Na′,另一根磁流体密封轴与驱动机构连接,一根磁流体密封轴与加载机构连接,再次测量两个转矩传感器的差值Nb′,其中: Na′=Na1+Na2′   Nb′=Nb1+Nb2′上式中,Na1是一根磁流体密封轴的左侧产生的摩擦力矩,该摩擦力矩在罐外,工作在常温常压环境下;Na2′一根磁流体密封轴右侧产生的摩擦力矩,工作在常温常压环境下;Nb1是另一根磁流体密封轴的右侧产生的摩擦力矩,该摩擦力矩在罐外,工作在常温常压下;Nb2′另一根磁流体密封轴的左侧产生的摩擦力矩,工作在常温常压环境下;(2)、加工一根专用轴,专用轴的两端分别与一根磁流体密封轴和另一根磁流体密封轴联接,一根磁流体密封轴与驱动机构连接,另一根磁流体密封轴与加载机构连接,测量两个转矩传感器的差值Nab:Nab=Na1+Na2+Nb1+Nb2Na1是一根磁流体密封轴的左侧产生的摩擦力矩,该摩擦力矩在罐外,工作在常温常压下;Na2为一根磁流体密封轴右侧产生的摩擦力矩,工作在热真空环境下;Nb1是另一根磁流体密封轴的右侧产生的摩擦力矩,该摩擦力矩在罐外,工作在常温常压下;Nb2为另一根磁流体密封轴的左侧产生的摩擦力矩,工作在热真空环境下;(3)、将第(1)步测量的两个轴的摩擦力矩值之和与第(2)步测试的总摩擦力矩值相减,定义为ΔN得到:ΔN=(Na′+Nb′)-Nab=(Na1+Na2′+Nb1+Nb2′)-(Na1+Na2+Nb1+Nb2)=(Na2′-Na2)+(Nb2′-Nb2)=ΔNa+ΔNbΔN表示两个磁流体密封轴在常温常压和热真空环境下的力矩总变化量;设定ΔNa=ΔNb=ΔN/2,由此得到:Na=Na′+ΔN/2Nb=Nb′+ΔN/2得到Na和Nb为两根磁流体密封轴在热真空环境下的摩擦力矩值。
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