[发明专利]地表粗糙度测量装置及地表粗糙度测量方法无效
| 申请号： | 201010100771.X | 申请日： | 2010-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN102135423A | 公开（公告）日： | 2011-07-27 |
| 发明（设计）人： | 杨习荣 | 申请（专利权）人： | 中国科学院遥感应用研究所 |
| 主分类号： | G01C5/00 | 分类号： | G01C5/00;G01C3/00;G01C9/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100101 北京市朝*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及地表粗糙度测量装置及地表粗糙度测量方法。一种地表粗糙度测量装置，该测量装置包括处理装置、移动装置、测距装置及支撑装置。所述处理装置用于所述测量装置的系统控制，获得所述测距装置的测量数据，所述移动装置被连接至所述处理装置及所述测距装置，由所述处理装置控制所述移动装置移动，以调整所述测距装置的姿势，所述测距装置用于测量距地表上的特定测量点之间的距离，并且将测得数据传输至所述处理装置，所述支撑装置支撑所述处理装置、所述移动装置和所述测距装置，用于将所述测距装置置于预定高度。本发明实用可行，操作便利，携带方便，适用于野外各种地表粗糙度的测量工作。 | ||
| 搜索关键词： | 地表 粗糙 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种地表粗糙度测量装置，其特征在于，该测量装置包括处理装置、移动装置、测距装置及支撑装置，所述处理装置用于所述测量装置的系统控制，获得所述测距装置的测量数据，所述移动装置被连接至所述处理装置及所述测距装置，由所述处理装置控制所述移动装置移动，以调整所述测距装置的姿势，所述测距装置用于测量距地表上的特定测量点之间的距离，并且将测得数据传输至所述处理装置，所述支撑装置支撑所述处理装置、所述移动装置和所述测距装置，用于将所述测距装置置于预定高度。
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