[发明专利]实现塞曼背景校正原子吸收的背景值计算和显示的方法

摘要

本发明公开了一种塞曼背景校正原子吸收的一种背景值计算和显示方法，其特征在于：在进行制作校正曲线的同时拟合计算参考道吸光度与校正了背景的原子吸收信号的相关关系，即计算Aref＝F2(Atotal(std)-Aref(std))，并以此拟合关系为基础，在每一个测量点计算真实背景值，即：计算Abkg＝Aref-F2(Atotal-Aref)；本发明提供的一种获得样品的真实背景值的塞曼背景校正原子吸收的一种背景值计算方法，并直观显示出参考道吸收、进行了背景校正的吸收、和真实背景三参数间的大小和关系。

主权项

一种实现塞曼背景校正原子吸收的背景值计算的方法，其特征在于：该方法包括如下步骤：第一步：建立校正曲线：(1).测量每一个标准样品的总吸收信号Atotal(std)；参考道信号Aref(std)；(2).计算每一个测量点的样品道信号Asam＝Atotal(std)‑Aref(std)；(3).拟合出浓度C和样品道信号Asam曲线方程：C＝F1(Asam)，这里F1表示函数关系，Asam＝Atotal(std)‑Aref(std)；(4).拟合出原子吸收中σ成分Aσ和样品道信号Asam曲线方程：Aσ＝Aref＝F2(Asam)，这里F2表示函数关系，Asam＝Atotal(std)‑Aref(std)；第二步：在测量实际样品时，扣除原子吸收中σ成分Aσ：(1).测量每一个样品的样品的总吸收信号Atotal；参考道信号Aref；(2).计算每一个测量点的样品道信号Asam＝Atotal‑Aref；(3).计算每一个测量点的原子吸收中σ成分Aσ＝F2(Asam)；(4).计算出真实背景值Abkg＝Aref‑Aσ；在进行制作校正曲线的同时拟合计算参考道吸光度与校正了背景的原子吸收信号的相关关系，即计算Aref＝F2(Atotal(std)‑Aref(std))，并以此拟合关系为基础，在每一个测量点计算真实背景值，即：计算Abkg＝Aref‑F2(Atotal‑Aref)。