[发明专利]利用自旋回波成像序列确定磁化转移常数的方法有效
| 申请号： | 201010104415.5 | 申请日： | 2010-01-27 |
| 公开（公告）号： | CN101803918A | 公开（公告）日： | 2010-08-18 |
| 发明（设计）人： | 蒂莫西·休斯;塔莱尔·C·玛米希 | 申请（专利权）人： | 西门子公司;小岛医院-基金会 |
| 主分类号： | A61B5/055 | 分类号： | A61B5/055 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 谢强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定磁化转移常数的方法，具有以下步骤：利用基于自旋回波的成像序列拍摄检查对象的第一MR信号序列；利用基于自旋回波的成像序列拍摄检查对象的第二MR信号序列，该成像序列具有与在第一MR信号序列中除了在第一MR信号序列中用于激励磁化的HF脉冲的能量与在第二MR信号序列中用于激励磁化的MR脉冲的能量不同之外，基本上相同的成像参数；并且借助在第一MR信号序列和第二MR信号序列之间的信号区别来确定磁化转移常数。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 自旋 回波 成像 序列 确定 磁化 转移 常数 方法 | ||
【主权项】：
一种用于确定磁化转移常数的方法，具有以下步骤：-利用基于自旋回波的成像序列拍摄检查对象的第一MR信号序列，-利用基于自旋回波的成像序列拍摄检查对象的第二MR信号序列，该成像序列具有与在第一MR信号序列中除了在第一MR信号序列中用于激励磁化的HF脉冲的能量与在第二MR信号序列中用于激励磁化的MR脉冲的能量不同之外，基本上相同的成像参数，并且-借助在第一MR信号序列和第二MR信号序列之间的信号区别来确定磁化转移常数。
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