[发明专利]飞秒激光等离子体通道干涉图相位和电子密度提取方法无效
申请号: | 201010106458.7 | 申请日: | 2010-02-05 |
公开(公告)号: | CN101776489A | 公开(公告)日: | 2010-07-14 |
发明(设计)人: | 周子理;卢海洋;夏长权;刘建胜;李儒新 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01J9/02 | 分类号: | G01J9/02 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 张泽纯 |
地址: | 201800上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种飞秒激光等离子体通道干涉图相位和电子密度提取方法,包括下列步骤:CCD相机拍摄无等离子体时探针光的背景干涉光强图和有等离子体时探针光的等离子体通道干涉光强图;干涉图滤波去噪;寻取明暗条纹位置;计算得到等离子体通道相位差空间分布P(i,j)和背景相位差空间分布Pbg(i,j);获得扣除背景后的相位差空间分布图P0(i,j);将所述的扣除背景后的相位差空间分布图P0(i,j)去噪;将所述的平滑的相位差空间分布图的相位差分布对称化,获得对称的相位差分布图Ps(i,j);用阿贝尔变换方法对所述的对称的相位差分布图Ps(i,j)进行处理,获得等离子体通道电子密度分布图。 | ||
搜索关键词: | 激光 等离子体 通道 干涉 相位 电子密度 提取 方法 | ||
【主权项】:
一种飞秒激光等离子体通道干涉图相位和电子密度提取方法,其特征在于该方法包括下列步骤:①用CCD相机拍摄无等离子体时探针光的背景干涉光强图Ibg(i,j)和有等离子体时探针光的等离子体通道干涉光强图I(i,j);②干涉图滤波去噪:将所述的等离子体通道干涉光强图进行快速傅里叶变换获得等离子体通道频域信息,滤掉频谱中的高频信号,减少系统的噪声干扰,获得去噪后的等离子体通道干涉光强图If(i,j);③对所述的去噪后等离子体通道干涉光强图If(i,j)寻取明暗条纹位置:逐行寻取去噪后的等离子体通道干涉光强图中的波峰和波谷并记录其位置获得等离子体通道明暗条纹位置图A(i,j);④从所述的等离子体通道明暗条纹位置图A(i,j)计算得到等离子体通道相位差空间分布P(i,j):⑤用上述步骤②至④同样的方法,对所述的背景干涉光强图Ibg(i,j)进行处理,得到无等离子体时的背景相位差空间分布Pbg(i,j);⑥将第④的等离子体通道相位差的空间分布P(i,j)扣除第⑤步的背景相位差空间分布Pbg(i,j),获得扣除背景后的相位差空间分布图P0(i,j);⑦将所述的扣除背景后的相位差空间分布图P0(i,j)去噪:再次使用快速傅里叶变换的方法对所述的扣除背景后的相位差空间分布图P0(i,j)滤波去噪,得到平滑的相位差空间分布图P0f(i,j);⑧将所述的平滑的相位差空间分布图的相位差分布对称化,获得对称的相位差分布图Ps(i,j);⑨使用阿贝尔变换方法对所述的对称的相位差分布图Ps(i,j)进行处理,获得等离子体通道电子密度分布图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所,未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010106458.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。