[发明专利]一种检定或校准数显测高仪示值误差的量块直立等温测量方法有效
| 申请号： | 201010108222.7 | 申请日： | 2010-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN101769705A | 公开（公告）日： | 2010-07-07 |
| 发明（设计）人： | 陈明;王振军 | 申请（专利权）人： | 云南省计量测试技术研究院 |
| 主分类号： | G01B5/02 | 分类号： | G01B5/02 |
| 代理公司： | 昆明今威专利代理有限公司 53115 | 代理人： | 赛晓刚 |
| 地址： | 650228*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种计量测试量块直立等温测量方法，属于计量测试技术领域。将被检或校准仪器放在实验室或车间的基准平板上，然后根据测量范围选择相应尺寸的量块放入量块直立等温装置中，并紧靠被检仪器直立放置在基准平板上，与被检仪器一起直立等温到两者温差小于允许值后，再按国家计量检定规程规定的方法进行仪器检定或校准。所用量块直立等温装置是一种垂直底边平行开有多条量块槽、能在槽中放置计量测试标准量块并使其呈直立状态的矩形块状结构或柱状结构装置。采用本方法可使量块和被检仪器尽可能处于同一竖直温场中，不仅可以降低对检定或校准温度环境的要求，而且可以提高检定或校准结果的可靠性，还具有结构简单、成本低廉、方便快捷、实用有效等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检定 校准 测高仪 误差 量块 直立 等温 测量方法 | ||
【主权项】：
一种检定或校准数显测高仪示值误差的量块直立等温测量方法，在实验室或车间，将量块与数显测高仪同步等温一定时间后，用标准量块对仪器的示值误差进行检定或校准，其特征是将数显测高仪放置在基准平板上，然后根据被检或校准数显测高仪的测量范围选择相应尺寸的量块，将量块紧靠数显测高仪直立放置在基准平板上、与数显测高仪同步等温到两者温差小于一定值后，再按国家计量检定规程规定的方法进行仪器示值误差的检定或校准。
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