[发明专利]发光二极管的检测方法与系统无效
| 申请号： | 201010111719.4 | 申请日： | 2010-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN102147327A | 公开（公告）日： | 2011-08-10 |
| 发明（设计）人： | 杨友财;杨育峰 | 申请（专利权）人： | 均豪精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种发光二极管检测方法与系统，其是以一拾取机构拾取一发光二极管，将所述发光二极管置入于一检测体的一开口上。所述发光二极管在所述检测体内的空间产生一光场，使得所述检测体检测所述光场。通过本发明的检测方法与系统，可以有效的检测发光二极管所产生的光场，避免发光二极管的光泄漏而影响到检测结果。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种发光二极管检测方法，其特征在于，其是包括有下列步骤：提供一检测体，其内具有一检测空间，在所述检测体的一侧具有一开口与所述检测空间相连接；以一拾取机构拾取一发光二极管，将所述发光二极管置于所述开口上，使所述发光二极管的发光部容置于所述检测空间内；使所述发光二极管于所述检测空间内产生一光场；以及以所述检测体检测所述光场。
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