[发明专利]功率变换装置以及使用该功率变换装置的电梯装置有效
申请号: | 201010114087.7 | 申请日: | 2010-02-04 |
公开(公告)号: | CN101841245A | 公开(公告)日: | 2010-09-22 |
发明(设计)人: | 森和久;迫田友治;大沼直人;蛭田清玄;绫野秀树;三田史明;保立尚史;石塚正人 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | H02M5/458 | 分类号: | H02M5/458;B66B5/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供一种能够以比较简单的结构高精度地检测出半导体模块的老化的功率变换装置以及使用该功率变换装置的电梯装置。该功率变换装置具有:包括半导体开关元件的半导体模块、使所述半导体开关元件进行接通或断开的开关动作的驱动电路以及向驱动电路发出接通或断开指令信号的控制装置,所述功率变换装置还具有温度检测部分和老化判断部分,该温度检测部分用于检测半导体模块的温度,该老化判断部分根据温度检测部分的检测结果判断半导体模块的老化,温度检测部分检测使半导体开关元件的开关次数变化时的温度。 | ||
搜索关键词: | 功率 变换 装置 以及 使用 电梯 | ||
【主权项】:
一种功率变换装置,其具有:包括半导体开关元件的半导体模块、使所述半导体开关元件进行接通或断开的开关动作的驱动电路以及向所述驱动电路发出接通或断开指令信号的控制装置,所述功率变换装置的特征在于,具有温度检测部分和老化判断部分,所述温度检测部分用于检测所述半导体模块的温度,所述老化判断部分根据所述温度检测部分的检测结果来判断所述半导体模块的老化,所述温度检测部分检测使所述半导体开关元件的开关次数变化时的温度。
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