[发明专利]使用环境的RH-H曲线编制方法无效
申请号: | 201010115571.1 | 申请日: | 2010-03-02 |
公开(公告)号: | CN102192875A | 公开(公告)日: | 2011-09-21 |
发明(设计)人: | 张福泽 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军空军装备研究院航空装备研究所 |
主分类号: | G01N17/00 | 分类号: | G01N17/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100076 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 使用环境的RH-H曲线编制方法本发明属于材料失效与保护领域。它主要解决金属结构日历寿命确定中的相对湿度RH与时间H相关曲线编制方法问题。它的编制技术方案:(1)在某一使用温度T1和四种湿度RHj工况下,用三级高浓度溶液d2、d3、d4进行Ht小时试验,测得腐蚀损伤Dij,由此绘出D-d曲线。(2)求使用浓度d1=1的腐蚀损伤D11、D12、、D13和D14。(3)求临界腐蚀损伤Dc相应的时间H11c、H12c、、H13c和H14c。(4)把RH1、RH2、RH3、RH4值和H11c、H12c、、H13c、H14c值画入RH-H坐标系,可得使用环境的RH-H曲线。该发明主要用于金属结构日历寿命确定中的相对湿度之间归并和折算上,该方法是目前国内外首次提出。 | ||
搜索关键词: | 使用 环境 rh 曲线 编制 方法 | ||
【主权项】:
1.本发明的权利要求是使用环境的相对湿度(RH)与时间(H)相关曲线编制方法:(1)测某一使用温度(T1)下的不同使用湿度(RHj)的等湿等时线的方法:即在使用温度T1、湿度RHj工况下,用三级高浓度溶液d2、d3、d4进行Ht小时腐蚀试验,测得相应的腐蚀损伤值Dij。由此可绘出使用环境的等湿等时线,即D-d曲线。(2)求使用浓度d1=1的腐蚀损伤值D1j方法:由上述D-d曲线可求出使用浓度d1、湿度RH1情况的损伤(Di1是试验浓度为di、湿度为RH1的腐蚀损伤值)。同理可求得RH2、RH3、RH4对应的D12、、D13、D14。(3)求临界腐蚀损伤Dc相应的时间H11c的方法:由上述求得的D11和D-H曲线,由此求得H 11 c = D c d i D i 1 H t ]]> 同理,可求出D12、、D13、D14对应的H12c、H13c、H14c值。(4)绘制使用环境的RH-H曲线的方法:把RH1、RH2、RH3、RH4值和对应的H11c、H12c、H13c、H14c值,画入RH-H坐标系,得到使用环境的RH-H曲线。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军空军装备研究院航空装备研究所,未经中国人民解放军空军装备研究院航空装备研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010115571.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种LED显示屏模组
- 下一篇:包括常数调整电路的半导体集成电路