[发明专利]并行复频域光学相干层析成像方法与系统有效

专利信息
申请号: 201010116626.0 申请日: 2010-03-03
公开(公告)号: CN101832817A 公开(公告)日: 2010-09-15
发明(设计)人: 黄炳杰;步鹏;王向朝;南楠 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45;G01N21/45
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种并行复频域光学相干层析成像方法与系统,该方法是在并行频域光学相干层析成像方法的基础上,通过用倾斜的反射光栅代替干涉参考臂的参考平面反射镜,并使入射参考光的一级衍射光沿原入射光路逆向返回,从而在二维光电探测器阵列获得的二维频域干涉条纹沿并行探测方向上引入线性空间相位调制,即在二维频域干涉条纹中引入空间载波;然后对含有空间载波的二维频域干涉条纹沿并行探测方向进行傅里叶变换,接着依次通过频域滤波窗滤波、坐标平移和沿频谱方向的逆傅里叶变换的过程,得到二维复频域干涉条纹,最后再通过沿光频方向的逆傅里叶变换获得待测物体层析图。本发明具有结构简单,成像速度快,只需一次曝光即可获得待测物体层析图。
搜索关键词: 并行 复频域 光学 相干 层析 成像 方法 系统
【主权项】:
一种并行复频域光学相干层析成像的方法,特征在于该方法是在并行频域光学相干层析成像方法的基础上,通过用倾斜的平面反射式衍射光栅代替干涉参考臂的参考平面反射镜,并使入射参考光的一级衍射光沿原入射光路逆向返回,从而在二维光电探测器阵列获得的二维频域干涉条纹沿并行探测方向上引入线性空间相位调制,即在二维频域干涉条纹中引入空间载波;然后对含有空间载波的二维频域干涉条纹沿并行探测方向作傅里叶变换,接着依次通过频域滤波、坐标平移和频域的逆傅里叶变换的过程,得到二维复频域干涉条纹,最后再通过以波数为变量的逆傅里叶变换获得待测物体层析图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所,未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010116626.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top