[发明专利]并行复频域光学相干层析成像方法与系统有效
申请号: | 201010116626.0 | 申请日: | 2010-03-03 |
公开(公告)号: | CN101832817A | 公开(公告)日: | 2010-09-15 |
发明(设计)人: | 黄炳杰;步鹏;王向朝;南楠 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01J3/45 | 分类号: | G01J3/45;G01N21/45 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 张泽纯 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种并行复频域光学相干层析成像方法与系统,该方法是在并行频域光学相干层析成像方法的基础上,通过用倾斜的反射光栅代替干涉参考臂的参考平面反射镜,并使入射参考光的一级衍射光沿原入射光路逆向返回,从而在二维光电探测器阵列获得的二维频域干涉条纹沿并行探测方向上引入线性空间相位调制,即在二维频域干涉条纹中引入空间载波;然后对含有空间载波的二维频域干涉条纹沿并行探测方向进行傅里叶变换,接着依次通过频域滤波窗滤波、坐标平移和沿频谱方向的逆傅里叶变换的过程,得到二维复频域干涉条纹,最后再通过沿光频方向的逆傅里叶变换获得待测物体层析图。本发明具有结构简单,成像速度快,只需一次曝光即可获得待测物体层析图。 | ||
搜索关键词: | 并行 复频域 光学 相干 层析 成像 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种并行复频域光学相干层析成像的方法,特征在于该方法是在并行频域光学相干层析成像方法的基础上,通过用倾斜的平面反射式衍射光栅代替干涉参考臂的参考平面反射镜,并使入射参考光的一级衍射光沿原入射光路逆向返回,从而在二维光电探测器阵列获得的二维频域干涉条纹沿并行探测方向上引入线性空间相位调制,即在二维频域干涉条纹中引入空间载波;然后对含有空间载波的二维频域干涉条纹沿并行探测方向作傅里叶变换,接着依次通过频域滤波、坐标平移和频域的逆傅里叶变换的过程,得到二维复频域干涉条纹,最后再通过以波数为变量的逆傅里叶变换获得待测物体层析图。
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