[发明专利]光刻机对准装置及其对准方法有效

专利信息
申请号: 201010118779.9 申请日: 2010-03-05
公开(公告)号: CN102193320A 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: 马雨雷;张品祥;段立峰;单世宝 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G03F9/00
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 201203*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提出一种光刻机对准装置及其对准方法,该装置包括光源,准直镜,待对准的掩模,掩模上的标记,和四象限光强传感器,标记呈近十字形,关于X,Y轴对称,标记在X轴方向的长度H与在Y轴方向的长度L之间具有设定差值,标记的侧面边缘与坐标轴具有设定角度。该对准方法包括:准直镜将光源发出的光准直照射到掩模的标记上;透过标记的准直光束垂直入射到四象限光强传感器上;根据四象限光强传感器的信息计算当前掩模的X轴和Y轴坐标以及绕四象限光强传感器法线方向的旋转角度;反馈给掩模运动系统对掩模进行位置移动和旋转,完成预对准过程。本发明提出的光刻机对准装置及其对准方法,用于光刻机掩模预对准,节约掩模空间,提高掩模利用率。
搜索关键词: 光刻 对准 装置 及其 方法
【主权项】:
一种光刻机对准装置,包括光源,以及所述光源传播路径上的准直镜,待对准的掩模,掩模上面的标记,和四象限光强传感器,其特征在于,所述标记呈近十字形,其分别关于X、Y轴对称,其中所述标记在X轴方向的长度H与标记在Y轴方向的长度L之间具有设定差值,所述设定差值越大,对准装置对旋转角度的测量越精确,所述标记的侧面边缘与坐标轴具有设定角度,所述设定角度用于增加旋转角度的测量范围,同时使所述四象限光强传感器的各象限输出数据远离零点,位于线性区域内。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海微电子装备有限公司,未经上海微电子装备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010118779.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top