[发明专利]光刻机对准装置及其对准方法有效
申请号: | 201010118779.9 | 申请日: | 2010-03-05 |
公开(公告)号: | CN102193320A | 公开(公告)日: | 2011-09-21 |
发明(设计)人: | 马雨雷;张品祥;段立峰;单世宝 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G03F9/00 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提出一种光刻机对准装置及其对准方法,该装置包括光源,准直镜,待对准的掩模,掩模上的标记,和四象限光强传感器,标记呈近十字形,关于X,Y轴对称,标记在X轴方向的长度H与在Y轴方向的长度L之间具有设定差值,标记的侧面边缘与坐标轴具有设定角度。该对准方法包括:准直镜将光源发出的光准直照射到掩模的标记上;透过标记的准直光束垂直入射到四象限光强传感器上;根据四象限光强传感器的信息计算当前掩模的X轴和Y轴坐标以及绕四象限光强传感器法线方向的旋转角度;反馈给掩模运动系统对掩模进行位置移动和旋转,完成预对准过程。本发明提出的光刻机对准装置及其对准方法,用于光刻机掩模预对准,节约掩模空间,提高掩模利用率。 | ||
搜索关键词: | 光刻 对准 装置 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种光刻机对准装置,包括光源,以及所述光源传播路径上的准直镜,待对准的掩模,掩模上面的标记,和四象限光强传感器,其特征在于,所述标记呈近十字形,其分别关于X、Y轴对称,其中所述标记在X轴方向的长度H与标记在Y轴方向的长度L之间具有设定差值,所述设定差值越大,对准装置对旋转角度的测量越精确,所述标记的侧面边缘与坐标轴具有设定角度,所述设定角度用于增加旋转角度的测量范围,同时使所述四象限光强传感器的各象限输出数据远离零点,位于线性区域内。
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