[发明专利]对施加到半导体开关元件的电压进行测定的半导体装置有效
| 申请号： | 201010118793.9 | 申请日： | 2010-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN101819248A | 公开（公告）日： | 2010-09-01 |
| 发明（设计）人： | 高良正行 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/327;G01R19/00;H03K17/0814 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 闫小龙;王忠忠 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种半导体装置，具备：半导体开关元件，其具备第一导通电极和第二导通电极；以及电压测定电路，用于对半导体开关元件的第一导通电极和第二导通电极之间的电压进行测定，电压测定电路包含：恒压元件，与半导体开关元件并联连接，将在半导体开关元件的导通方向上施加的电压限制为规定值；控制用开关，与恒压元件并联连接；以及开关控制部，在半导体开关元件被切断时使控制用开关导通，在半导体开关元件被接通时使控制用开关断开。 | ||
| 搜索关键词： | 施加 半导体 开关 元件 电压 进行 测定 装置 | ||
【主权项】：
一种半导体装置，具备：半导体开关元件，其具备第一导通电极和第二导通电极；以及电压测定电路，用于对所述半导体开关元件的第一导通电极和第二导通电极之间的电压进行测定，所述电压测定电路包含：恒压元件，与所述半导体开关元件并联连接，将在所述半导体开关元件的导通方向上施加的电压限制为规定值；控制用开关，与所述恒压元件并联连接；以及开关控制部，在所述半导体开关元件被切断时使所述控制用开关导通，在所述半导体开关元件被接通时使所述控制用开关断开。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三菱电机株式会社，未经三菱电机株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010118793.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：金属密封固定球阀阀杆和定心轴连接结构
- 下一篇：可电沉积组合物
