[发明专利]非接触式复合扫描测量系统有效

专利信息
申请号: 201010119855.8 申请日: 2010-03-08
公开(公告)号: CN102192705A 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: 刘纳平 申请(专利权)人: 刘纳平
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 412000 湖南省*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种非接触式复合扫描测量系统,其包括点激光器、柱面透镜、双面反射镜、数字相机、目镜及反射镜,其中,所述数字相机和目镜自上向下平行安装,其二者的安装中心线大致重合,所述点激光器发出的光线经双面反射镜的第一表面反射至被测物体,被测物体发出的光线经反射镜反射至双面反射镜的第二表面后通过目镜进入数字相机。相较于现有技术,本发明型具有如下优点:结构简单,操作方便快捷,不损伤物体表面;可实现多种非接触式测量;在同一个坐标系统中测量,测量数据精确,多种测量方式所得数据可以统一在同一个坐标系中。
搜索关键词: 接触 复合 扫描 测量 系统
【主权项】:
一种非接触式复合扫描测量系统,其包括点激光器、双面反射镜、数字相机、目镜及反射镜,其特征在于:所述数字相机和目镜自上向下平行安装,其二者的安装中心线大致重合,所述点激光器发出的光线经双面反射镜的第一表面反射至被测物体,被测物体发出的光线经反射镜反射至双面反射镜的第二表面后通过目镜进入数字相机。
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