[发明专利]FPGA配置器件的ATE测试方法有效
| 申请号： | 201010123404.1 | 申请日： | 2010-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN101788646A | 公开（公告）日： | 2010-07-28 |
| 发明（设计）人： | 叶守银;祁建华;牛勇;徐惠;岳小兵;余琨 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 201203 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种FPGA配置器件的ATE测试方法，包括如下步骤：(1)依次在VCCint端和VCCO端上电；(2)进入在系统可编程状态；(3)写入时间常数；(4)进入写数据模式，写入一帧数据；(5)处理移入的数据；(6)数据写入存储单元；(7)重复步骤(4)到(6)写入下一帧数据，直到写入所有数据。本发明具有以下优点：可以实现18VXX系列PROM的产业化测试，大大提高测试效率降低测试成本，测试时间可以缩短到原有测试时间的30％以内。 | ||
| 搜索关键词： | fpga 配置 器件 ate 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种FPGA配置器件的ATE测试方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)依次在VCCint端和VCCO端上电；(2)进入在系统可编程状态；(3)写入时间常数；(4)进入写数据模式，写入一帧数据；(5)处理移入的数据；(6)数据写入存储单元；(7)重复步骤(4)到(6)写入下一帧数据，直到写入所有数据。
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