[发明专利]一种薄膜式热流密度传感器及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201010124574.1 申请日: 2010-03-16
公开(公告)号: CN101819074A 公开(公告)日: 2010-09-01
发明(设计)人: 郝庆瑞 申请(专利权)人: 中国飞机强度研究所
主分类号: G01K17/00 分类号: G01K17/00;G01K17/08;G01K7/22
代理公司: 中国航空专利中心 11008 代理人: 杜永保
地址: 710065 陕*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种热流密度传感器,特别是关于一种薄膜式热流密度传感器以及制造方法。所述薄膜式热流密度传感器包括基底、第一热阻材料、第二热阻材料、热电极A与热电极B组成的热电堆以及引出线,所述热电极A和热电极B相互交错排列组成热电堆,所述热电堆上覆盖有热阻材料,且热电堆高温端上的热阻材料厚度小于热点堆低温端的热阻材料厚度。本发明薄膜式热流密度传感器及其制造方法通过真空离子溅射的方式直接在热阻材料基底上制作热电极A和热电极B,并通过由热电偶串联而成的热电堆测量温差电动势。因此效率高,成本较低,而且制造简单,能方便地实现对热流值的测量,精度较高,具有较大的实际应用价值。
搜索关键词: 一种 薄膜 热流 密度 传感器 及其 制造 方法
【主权项】:
一种薄膜式热流密度传感器,其特征在于:包括基底、第一热阻材料、第二热阻材料、热电极A与热电极B组成的热电堆以及引出线,所述热电极A和热电极B相互交错排列组成热电堆,所述热电堆上覆盖有热阻材料,且热电堆高温端上的热阻材料厚度小于热点堆低温端的热阻材料厚度,所述引出线为测量线,分别从热电极A和热电极B的末端引出。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国飞机强度研究所,未经中国飞机强度研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010124574.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top