[发明专利]封装结构及其制造方法有效
申请号: | 201010128175.2 | 申请日: | 2010-02-12 |
公开(公告)号: | CN102024712A | 公开(公告)日: | 2011-04-20 |
发明(设计)人: | 沈更新;王骏泳 | 申请(专利权)人: | 南茂科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/60;H01L25/00;H01L23/482 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 任永武 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明是关于一种封装结构以及其制造方法。该封装结构包含一基材层、多个芯片、一复合树脂层以及一支撑层。该基材层形成有一电路,该电路具有多个接点,自一防焊层显露出来。这些芯片结合至该基材层上,以形成一第一带体。其中,各该芯片具有多个接垫、形成于这些接垫上的多个凸块下金属层以及设置于这些凸块下金属层上的多个复合凸块。该第二带体包含支撑层及形成于支撑层上的复合树脂层。又第一带体与第二带体皆为卷带结构受滚轮传动展开,以于被加热和加压后封装这些芯片。本发明的优点是:可通过减少金的使用,以降低制造成本;其工艺可运用于大规模生产中。 | ||
搜索关键词: | 封装 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种制造封装结构的方法,其特征在于,包含下列步骤:提供一基材层,该基材层上形成有一电路及一防焊层,该电路受该防焊层覆盖并暴露出该电路的多个接点;提供多个芯片,各该芯片具有多个接垫及设置于这些接垫上的多个复合凸块;将这些芯片结合至该基材层上,以形成一第一带体,其中,这些复合凸块分别与这些接点电性连接;提供一第二带体,其具有一支撑层以及涂覆于该支撑层上的一复合树脂层;分别将该第一带体以及该第二带体形成一卷筒状结构;将该第一带体及该第二带体展开且输送至一对滚轮;将该第二带体进行预热,以软化其上的该复合树脂层;以该对滚轮对该第一带体及该第二带体进行加热以及加压,至摄氏100~250度,以使这些芯片埋覆于该复合树脂层内。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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