[发明专利]轮廓测量方法

摘要

本发明公开了一种轮廓测量方法，其包括：S1、相机标定；S2、对条纹Mi分别进行相位-高度标定；S3、将M1投影在被测物上，根据相位-高度标定求得各观测点的高度坐标，再根据相机标定求得该各观测点的三维坐标；S4、利用前一步较宽频条纹的测量结果辅助下一步较窄频条纹解包裹获取相位，再利用标定数据，完成一次更为精确的测量；S5、循环执行步骤S4，直至对被测物的轮廓测量达到预定的精度。本发明能够对复杂外形被测物表面轮廓进行大范围且高精度的测量。

主权项

一种轮廓测量方法，其特征在于，该方法采用一测量装置，该测量装置包括一相机以及一投影单元，该方法包括：S1、进行该相机的标定；S2、利用该投影单元生成正弦条纹Mi，i＝1～n，n为大于1的正整数，该些条纹的频率F(Mi)满足F(M1)＝1/2F(M2)＝1/22F(M3)＝...＝1/2(n‑1)F(Mn)，利用校正板对该些条纹Mi分别进行相位‑高度标定；S3、将M1投影在被测物上，移动该测量装置使该相机FOV覆盖的被测物表面上各点到该测量装置的距离均在M1的测量范围内，获取由该相机观测到的各观测点的相位并对其解包裹，根据相位‑高度标定由经过解包裹的该各观测点相位求得该各观测点的高度坐标，再根据相机标定求得该各观测点的三维坐标；S4、移动该测量装置使被测物的至少部分表面进入Mk的测量范围，此处取k＝2，然后将Mk‑1投影在被测物上，获得该部分表面对应的各观测点的三维坐标并模拟出轮廓曲面，获取Mk的每个相位投影面与该轮廓曲面的各交点对应的各观测点的相位并对其解包裹，根据相位‑高度标定由经过解包裹的该各观测点相位求得该各观测点的高度坐标，再根据相机标定获得该各观测点的三维坐标，而后将k的取值增加1；S5、循环执行步骤S4，直至对被测物的轮廓测量达到预定的精度。