[发明专利]晶圆框架的运送装置及运送方法有效
申请号: | 201010131692.5 | 申请日: | 2010-02-27 |
公开(公告)号: | CN101996916A | 公开(公告)日: | 2011-03-30 |
发明(设计)人: | 北原徹 | 申请(专利权)人: | 株式会社泰塞克 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 日本东京东大和市上北台3*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种能够实现小型化的晶圆框架的运送装置及运送方法。其技术方案包括:倒立部(4)使晶圆框架(W)倒立成其平面沿铅直方向的状态;移动部(5)以该状态运送晶圆框架(W)。由此,与以晶圆框架(W)的平面沿水平方向的状态进行运送的情况相比,晶圆框架(W)的运送路径所需面积变小,因此,其结果是能够实现小型化。即,由于在本实施例中使晶圆框架(W)的平面倒立成沿铅直方向的状态运送,因此,运送路径至少仅用晶圆框架(W)的移动距离乘以晶圆框架(W)的厚度的面积即可,因此,能够使运送路径所需面积相比现有技术变小。 | ||
搜索关键词: | 框架 运送 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种运送装置,为运送平面状的框架的运送装置,所述框架保持贴着电子元件的薄板;其特征在于,包括:保持部,保持所述框架;倒立部,使该保持部移动并至少使保持薄板的所述框架的平面呈沿铅直方向的状态;移动部,使因该倒立部而平面呈沿所述铅直方向的状态的所述框架沿水平方向移动。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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