[发明专利]半导体器件的制造方法有效
申请号: | 201010135705.6 | 申请日: | 2010-03-12 |
公开(公告)号: | CN101840874A | 公开(公告)日: | 2010-09-22 |
发明(设计)人: | 肋坂伸治 | 申请(专利权)人: | 卡西欧计算机株式会社 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 陈萍 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 半导体器件的制造方法包括:准备半导体晶片,具备被分别沿着第1方向及第2方向延伸的多个切割道包围的各半导体器件形成区域,在上述各半导体器件形成区域形成有多个柱状电极以及设在该柱状电极的周围的密封膜;对于分别最接近于沿着第1方向延伸的一对切割道的多个柱状电极、或者分别最接近于沿着第2方向延伸的一对切割道的多个柱状电极,在向该半导体器件形成区域的内侧偏离并且与该柱状电极相接的位置形成焊料膏层;通过回流,将与分别最接近于沿着第1方向延伸的一对切割道的多个柱状电极接触的焊料膏层、或者与分别最接近于沿着第2方向延伸的一对切割道的多个柱状电极接触的焊料膏层向该半导体器件形成区域的外侧移动来形成焊料凸块。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体器件的制造方法,具有以下工序:准备半导体晶片,该半导体晶片具备被分别沿着第1方向及与上述第1方向不同的第2方向延伸的多个切割道包围的各半导体器件形成区域,在上述各半导体器件形成区域形成有多个柱状电极、以及设在该柱状电极的周围的密封膜;对于上述半导体器件形成区域的上述多个柱状电极之中的、与沿着上述第1方向延伸的一对上述切割道分别最接近的多个上述柱状电极、或者与沿着上述第2方向延伸的一对上述切割道分别最接近的多个上述柱状电极,在向该半导体器件形成区域的内侧偏离并且与该柱状电极相接的位置,形成焊料膏层;通过回流,使相接于与沿着上述第1方向延伸的一对上述切割道分别最接近的多个上述柱状电极的上述焊料膏层、或者相接于与沿着上述第2方向延伸的一对上述切割道分别最接近的多个上述柱状电极的上述焊料膏层,向该半导体器件形成区域的外侧移动,来形成焊料凸块。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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