[发明专利]钻石切工参数测量方法及测量装置无效
| 申请号： | 201010136202.0 | 申请日： | 2010-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN101793840A | 公开（公告）日： | 2010-08-04 |
| 发明（设计）人： | 石斌;袁心强 | 申请（专利权）人： | 中国地质大学(武汉) |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84 |
| 代理公司： | 武汉华旭知识产权事务所 42214 | 代理人： | 刘荣 |
| 地址： | 430074 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种钻石切工参数测量方法及专用装置，测量方法的步骤包括根据样品台直径选择相应尺寸的标准样品，将不同尺寸标准样品的测量结果作为测量的校正系数，根据被测钻石尺寸选择相应直径的样品台，将被测钻石放置在选定的样品台上置入切工参数测量仪器，采集样品台及钻石不同侧面图像，通过对各图像进行处理、分析与计算，找出图像中与钻石切工相关的关键特征点，并计算出关键特征点的位置坐标并计算出切工参数，并对被测钻石切工参数进行校正；所述专用装置，包括光源、可旋转样品台、摄像镜头和图像采集系统。采用本发明测量方法和装置，可精确测量不同尺寸的钻石切工参数，测试快捷、使用方便。 | ||
| 搜索关键词： | 钻石 参数 测量方法 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种钻石切工参数测量方法，其特征在于，根据样品台直径选择相应尺寸的标准样品，将不同尺寸标准样品的测量结果作为测量的校正系数，根据被测钻石尺寸选择相应直径的样品台，将被测钻石放置在选定的样品台上置入切工参数测量仪器，采集样品台及钻石不同侧面图像，通过对各图像进行处理、分析与计算，找出图像中与钻石切工相关的关键特征点，并计算出关键特征点的位置坐标，由位置坐标计算出切工参数，选取与样品台直径对应的校正系数对被测钻石切工参数进行校正。
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