[发明专利]具有封装环的半导体芯片及其制作方法无效
申请号: | 201010136671.2 | 申请日: | 2010-03-26 |
公开(公告)号: | CN102201374A | 公开(公告)日: | 2011-09-28 |
发明(设计)人: | 王辉;罗大杰 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L23/00 | 分类号: | H01L23/00;H01L21/02 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 谢安昆;宋志强 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种具有封装环的半导体芯片,该半导体芯片包括:半导体衬底上的有源区和有源区之上依次形成的多个金属互连层,所述半导体芯片还包括:位于每个金属互连层中的封装环,所述封装环为环绕有源区的四边形形状,且四边形中每相邻两边以圆弧连接。本发明还公开了一种具有封装环的半导体芯片的制作方法,采用该芯片和方法能够避免封装环发生断裂。 | ||
搜索关键词: | 具有 封装 半导体 芯片 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种具有封装环的半导体芯片,该半导体芯片包括:半导体衬底上的有源区和有源区之上依次形成的多个金属互连层,其特征在于,所述半导体芯片还包括:位于每个金属互连层中的封装环,所述封装环为环绕有源区的四边形形状,且四边形中每相邻两边以圆弧连接。
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