[发明专利]电子产品失效分析方法无效
| 申请号： | 201010137027.7 | 申请日： | 2010-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN102207527A | 公开（公告）日： | 2011-10-05 |
| 发明（设计）人： | 游永兴 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电子产品失效分析方法，该方法包括如下步骤：从存储装置中获取失效电子产品的失效信息；根据所获取的失效信息进行失效复制验证，以验证所获取的失效信息对应的失效现象能否复制；当所获取的失效信息对应的失效现象不能复制时，对失效电子产品进行测试以判断所述失效电子产品的失效原因是否属于不能复制问题；当所述失效电子产品不属于不能复制问题时，判断所述失效电子产品是否未出故障。 | ||
| 搜索关键词： | 电子产品 失效 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种电子产品失效分析方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：从存储装置中获取失效电子产品的失效信息；根据所获取的失效信息进行失效复制验证，以验证所获取的失效信息对应的失效现象能否复制；当所获取的失效信息对应的失效现象不能复制时，对失效电子产品进行测试以判断所述失效电子产品的失效原因是否属于不能复制问题；当所述失效电子产品不属于不能复制问题时，判断所述失效电子产品是否未出故障；当所述失效电子产品不属于未出故障问题时，判断所述失效电子产品的失效原因是否为客户造成的问题；当所述失效电子产品不属于客户造成的问题时，判断所述失效电子产品的失效原因是否为测试程序问题；当所述失效电子产品不属于测试程序问题时，判断所述失效电子产品的失效原因是否为制造问题；当所述失效电子产品不属于制造问题时，判断所述失效电子产品上的零件是否出现质量问题；当所述失效电子产品上的零件没有质量问题时，对电子产品的电路设计进行分析以得到电路设计的问题，并发出工程变更通知。
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