[发明专利]电容式触摸屏ITO电气特性检测方法及检测系统

摘要

本发明涉及一种电容式多点触摸屏ITO电气特性检测系统，包括感应电极阵列电路板、正弦波相位量测电路以及正弦波信号控制及数据处理电路，感应电极阵列电路板用于承载被测触摸屏，检测时，分别向触摸屏的各ITO电路层发送正弦波，由正弦波相位量测电路测量输入信号与感应信号之间的周相差，并通过调整正弦波频率的输出，从而得到各ITO电路层与感应电极之间以及相邻两ITO电路层之间的电容场分布情况，根据该电容场分布可判断出ITO线路及银导线电气特性是否良好，从而实现进一步检测触摸屏的良率，具有较大的推广应用价值。

主权项

一种电容式触摸屏ITO电气特性检测方法，所述的电容式触摸屏包括至少两层ITO电路层，相邻ITO电路层之间设置有隔离层，每层ITO电路层包括ITO接口、设置在ITO接口上的多条ITO电极、连接在ITO接口与每条ITO电极之间的银导线，其特征在于：该方法包括如下步骤：(a)、设置一M＊N行感应电极阵列，将被测电容式触摸屏放置在该感应电极阵列上，并使得感应电极阵列与电容式触摸屏上待测点位置一一对应，则每层ITO电路层的ITO电极与对应的每个感应电极之间均可等效为一个感应电阻(R)串联一个感应电容(Cs)的电路；(b)、用一个已经电感值的检测电感(L1)一端与第一层ITO电路层的ITO接口相连接，检测电感(L1)的另一端定义为信号输入端(TP1)；再用一个已知电阻值的检测电阻(R1)一端与对应的感应电极相连，检测电阻(R1)另一端接地，与感应电极相连接的检测电阻一端定义为检测端(TP2)，从而检测电感(L1)、感应电阻(R)、感应电容(Cs)与检测电阻(R1)之间构成一个RLC电路；(c)、向上述信号输入端(TP1)输入一个固定频率的正弦波信号，则在所述的检测端(TP2)产生一个与输入正弦波频率相同、具有一定周相差的正弦波；(d)、通过量测信号输入端与检测端之间的周相差，调节输入正弦波的频率，使得输入的正弦波与检测端的正弦波周相差为0，即可计算出相应ITO电极处与感应电极之间的感应电容(Cs)，选取一次周相差不等于0的测试结果，即可计算得到感应电阻值(R)；(e)、按照步骤(b、c、d)分别对第一层ITO电路层所有ITO电极进行量测，从而得到对应于第一层ITO电路层的二维感应电阻阵列(Rt[m，n])和二维感应电容值矩阵(Ct[m，n])；(f)、根据步骤(e)中测得的二维感应电阻阵列(Rt[m，n])即可判断所述第一层ITO电路层的ITO电极结构是否存在断裂、破裂或短路等电气结构的缺陷；根据测得的二维感应电容值矩阵(Ct[m，n])即可判断第一层ITO电路层的ITO电极周围是否存在材料分布不均匀、气泡或电路刮伤等不良缺陷；(g)、按照上述步骤(b、c、d)对其它层ITO电路层所有ITO电极进行量测，从而可得到该层ITO电路层的二维感应电阻值矩阵(Rb[m，n])和二维感应电容值矩阵(Cb[m，n])，从而可对相应的ITO电路层的质量进行判断；(h)、根据步骤(f)、(g)测得的相应ITO电路层的二维感应电阻矩阵和二维感应电容矩阵计算相邻两ITO电路层之间的电容矩阵(Cp[m，n])，从而可判断相邻两ITO电路层之间的电容场分布是否均匀。