[发明专利]衬底的蚀刻方法以及系统有效

专利信息
申请号: 201010138555.4 申请日: 2010-03-19
公开(公告)号: CN101840884A 公开(公告)日: 2010-09-22
发明(设计)人: 宇贺神肇 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L21/00;G11B5/84
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 柳春雷;南霆
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种衬底的蚀刻方法以及系统,在对在硅的表面上形成有硅氧化膜的衬底进行蚀刻的方法中,能够将接触电阻降低。将包含卤素的气体和碱性气体供应到衬底(W)上,生成使包含卤素的气体、碱性气体与硅氧化膜发生化学反应得到的凝结层(105),从而对硅氧化膜(104)进行蚀刻。将包含从F2气、XeF2气以及ClF3气的组中选择的至少一者的硅蚀刻气体供应到衬底W上,通过硅蚀刻气体对衬底(W)上的硅进行蚀刻。在结束硅氧化膜(104)的蚀刻和硅的蚀刻之后,将衬底上的(105)凝结层加热而去除该凝结层。
搜索关键词: 衬底 蚀刻 方法 以及 系统
【主权项】:
一种蚀刻方法,对在硅的表面上形成有硅氧化膜的衬底进行蚀刻,所述蚀刻方法包括:硅氧化膜蚀刻工序,将碱性气体和包含卤素的气体供应到衬底上,生成使所述包含卤素的气体、所述碱性气体与硅氧化膜发生化学反应得到的凝结层,从而对硅氧化膜进行蚀刻;硅蚀刻工序,将包含从F2气、XeF2气以及ClF3气的组中选择的至少一者的硅蚀刻气体供应到衬底上,通过所述硅蚀刻气体对硅进行蚀刻;以及凝结层去除工序,在结束所述硅氧化膜蚀刻工序和所述硅蚀刻工序之后,将衬底上的所述凝结层加热而去除该凝结层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东京毅力科创株式会社,未经东京毅力科创株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010138555.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top