[发明专利]用于控制磁共振设备中磁共振测量过程的方法和装置

摘要

本发明描述了一种在磁共振设备(5)中用于控制MR测量过程的方法和装置(6)。在此，将预定体积片段(23)划分为具有预定层间隔(d)的并行的层(22)并且利用连续移动的检查台进行测量。除了在MR测量的开始和结束阶段，在作为基础的基本序列的每个重复中激励并读出检查对象的多个层(22)，其中，所述多个层位于磁共振设备(5)的内部中的有效体积(24)中。作为基础的基本序列的每个重复所激励并读出的层(22)的数量根据特别是确定图像对比度和图像分辨率的参数来自动地选择，并且由此不是由磁共振设备(5)的用户自由设定的。

主权项

一种在磁共振设备(5)中用于控制磁共振测量过程的方法，其中，采集检查对象(O)的预定体积片段(23)的磁共振信号，其中，磁共振测量的每个重复激励并测量所述预定体积片段(23)的多个层(22)，其中，在检查台连续移动的情况下激励和测量，并且其中，每个重复所激励并测量的多个层(22)的数量根据确定磁共振测量过程的参数被自动地确定，并且不是由磁共振设备(5)的用户自由设定。