[发明专利]一种多功能反射式磁光光谱测量系统

摘要

本发明公开了一种多功能反射式磁光光谱测量系统，使用超连续白光光源、光栅单色仪、若干偏振镜片、光弹调制器、宽带1/4与1/2波片、消偏振分光棱镜(NPBS)、单端与差分探测器以及OXFORD低温超导磁体系统，组成结构灵活可变的光谱探测系统，可以在同一光路上实现反射式磁圆二向色性(MCD)、极向磁光克尔效应、偏振反射光谱以及磁线二向色性(MLD)的测量。该系统灵敏度高，可用于基础物理研究、材料特性分析和偏振调制光通信等诸多领域。

主权项

一种多功能反射式磁光光谱测量系统，其特征在于，该系统包括：一超连续白光光源，其出射光经过单色仪后作为样品测试光源；一单色仪，用于对超连续白光光源的出射光进行滤波，仅选择单一波长的光通过；一斩波器，用于对光源进行斩波调制，实时监测光强变化，并作为参考信号源探测偏振反射光谱；一到二偏振片，用于偏振滤波；一光弹调制器PEM，用于将起偏器出射的线偏光变为偏振调制光；一50∶50消偏振宽带分光棱镜，用于将入射光分解为沿原传输方向和垂直于原传输方向的两束光；一中心带有室温孔洞的超导磁体杜瓦，用于提供用于磁光光谱的磁场，致冷机放置样品的致冷头能深入超导磁体杜瓦的室温孔洞中；两个致冷头铜座，其中一个放置样品的平面与超导磁体杜瓦的磁场方向垂直；另一个则带有一段与超导磁体磁场方向相平行的立面用于粘贴样品，铜座上面向该立面固定一块带45°斜边的保偏反射棱镜；一到二单端探测器和一差分探测器，单端探测器用于探测反射光的光强，直接探测MCD和偏振反射谱；差分探测器用于探测通过反射光通过沃拉斯顿棱镜后形成的两束光的差值，探测克尔效应以及磁线二向色性；一沃拉斯顿棱镜，放置于宽带1/2波片后方，将反射光分解为偏振面互相垂直的两束偏振光；以及一宽带1/4波片与一宽带1/2波片，宽带1/4波片用于测量偏振反射谱，置于光弹制器的位置；宽带1/2波片放置于沃拉斯顿棱镜之前并与之联合使用，用于差分探测器平衡位置调节。