[发明专利]一种增强光学掩模分辨率及制造高分辨率光学掩模的方法无效
申请号: | 201010145304.9 | 申请日: | 2010-04-09 |
公开(公告)号: | CN102213913A | 公开(公告)日: | 2011-10-12 |
发明(设计)人: | 龙世兵;刘明;陈宝钦;谢常青;李友;李新涛;张建宏;张卫红;王冠亚;谢文妞 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G03F1/14 | 分类号: | G03F1/14;G03F7/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种增强光学掩模分辨率的方法,在普通光学掩模的某些特定透光区域减少一层透明介质层,光波透过这层特殊介质的相位恰好与相邻透光区的透射光的相位相反,这两个区域的光,由原来的相加干涉变为了相消干涉,从而提高了光学掩模的分辨率。本发明同时公开了一种制造高分辨率光学掩模的方法,包括:在熔石英基片铬板上涂覆正性抗蚀剂,采用电子束直写光刻系统曝光出180°相位调节器图形,采用湿法腐蚀去除没有被抗蚀剂掩蔽的铬膜并去胶,采用刻蚀出与相当于曝光波长厚度的相位调节器图形,重新涂覆正性抗蚀剂,再次通过电子束直写光刻曝光出0°相位的图形区域并显影,采用湿法腐蚀去铬膜,去胶,制成分辨率增强光学掩模。 | ||
搜索关键词: | 一种 增强 光学 分辨率 制造 高分辨率 方法 | ||
【主权项】:
一种增强光学掩模分辨率的方法,其特征在于,该方法是在光学掩模的特定透光区域减少一层透明介质层,光波透过该特定透光区域后的相位与相邻透光区域透射光的相位相反,该特定透光区域和相邻透光区域的透射光,由原来的相加干涉变为相消干涉,抵消由于原来衍射效应造成的光强叠加,增强了光学掩模的分辨率。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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