[发明专利]一种对半导体器件进行提参建模的方法无效
| 申请号： | 201010145308.7 | 申请日： | 2010-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN102214252A | 公开（公告）日： | 2011-10-12 |
| 发明（设计）人： | 卜建辉;毕津顺;韩郑生 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周国城 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种对半导体器件进行提参建模的方法，该方法包括：用半导体参数测试仪对半导体器件进行测试，得到该半导体器件的原始数据；用提参软件从该半导体器件的原始数据中提取参数，得到旧模型参数；在得到的旧模型参数中加入宏模型，形成含有未知参数的准新模型；获取新模型参数，将该新模型参数加入到含有未知参数的准新模型中，形成新模型。本发明提供的这种对半导体器件进行提参建模的方法，使用了宏模型，实现了对新加模型参数提取的自动化，从而使得复杂的提参建模变的更加简单和高效。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体器件 进行 参建 方法 | ||
【主权项】：
一种对半导体器件进行提参建模的方法，其特征在于，该方法包括：用半导体参数测试仪对半导体器件进行测试，得到该半导体器件的原始数据；用提参软件从该半导体器件的原始数据中提取参数，得到旧模型参数；在得到的旧模型参数中加入宏模型，形成含有未知参数的准新模型；获取新模型参数，将该新模型参数加入到含有未知参数的准新模型中，形成新模型。
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