[发明专利]液晶面板透过率的测量方法及系统有效
| 申请号： | 201010145543.4 | 申请日： | 2010-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN102213848A | 公开（公告）日： | 2011-10-12 |
| 发明（设计）人： | 张培林;柳在健 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100176 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种液晶面板透过率的测量方法及系统，涉及液晶显示技术领域，提高了测量液晶面板的透过率曲线的精度。包括：获得液晶面板的初始电压；向液晶面板分别输入所述初始电压、以所述初始电压为中心的对称电压作为显示电压；分别获取所述液晶面板在所述显示电压下的亮度值，所述亮度值用于得出对应的透过率。本发明实施例主要应用于测量液晶面板透过率的过程中。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶面板 透过 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
一种液晶面板透过率的测量方法，其特征在于，包括：获得液晶面板的初始电压；向液晶面板分别输入所述初始电压、以所述初始电压为中心的对称电压作为显示电压；分别获取所述液晶面板在所述显示电压下的亮度值，所述亮度值用于得出对应的透过率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京京东方光电科技有限公司，未经北京京东方光电科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010145543.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种计算机进程终止系统和方法
- 下一篇：高压湿式电除尘器可调式阴极固定装置
