[发明专利]一种用于分析痕量气态单质汞的方法和装置无效
| 申请号： | 201010149372.2 | 申请日： | 2010-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN102221540A | 公开（公告）日： | 2011-10-19 |
| 发明（设计）人： | 陈进生;徐亚;赵金平;徐玲玲;张福旺;尹丽倩 | 申请（专利权）人： | 中国科学院城市环境研究所 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N1/22 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 361021 福建省厦门市集*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 一种用于分析痕量气态单质汞的方法和装置，属于大气环境监测技术领域。该方法采用程控器控制分析全过程，将采集了大气气态单质汞(GEM)样品的捕汞管置于热解释放器后快速升温，释放的Hg0蒸气经除去携带的酸性组份后，进入二次富集/热解释放器，并被其中的捕汞管二次吸附。之后，二次富集/热解释放器快速升温，二次热解脱附的Hg0蒸气被载气吹入冷原子荧光检测器进行定量检测。本发明装置系统简单，运行可靠，捕汞管所采集的大气气态单质汞(GEM)样品，经过二次富集与热解释后进行分析，可有效地降低仪器的检测限，满足大气GEM痕量分析的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 分析 痕量 气态 单质 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于分析痕量气态单质汞(GEM)的方法和装置，包括下述装置：样品热解释放器(1)的腔体为圆形石英玻璃管，外部缠挠镍铬加热丝，以实现置于腔体内样品捕汞管的快速升温，同时设置微型风扇以实现捕汞管快速冷却；净化器(2)内填CaO粉末；二次富集/热解释放器(3)与样品热解释放器(1)的结构类似，但其中的捕汞管是用于汞的二次富集；原子荧光检测器(4)用于汞蒸气的定量分析；程控器(5)可协调控制分析装置各部件的工作状态。
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