[发明专利]散射物质多维光谱测量装置与方法有效

专利信息
申请号: 201010152294.1 申请日: 2010-04-22
公开(公告)号: CN101813623A 公开(公告)日: 2010-08-25
发明(设计)人: 李刚;赵喆;林凌;王慧泉 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N21/49 分类号: G01N21/49;G01N21/01
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 李素兰
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种散射物质多维光谱测量装置,该测量装置包括光源、样品池、出射光检测器和物理扰动装置,所述光源的入射位置固定,所述样品池截面为方形且位置固定,出射光导出装置的位置是可移动的,进而改变样品池、光源和出射光检测器形成的光路,扰动装置可对被测物施加物理扰动。同时,本发明还公开了一种散射物质多维光谱测量方法,通过对所述出射光检测器的位置进行水平方向和竖直方向的移动,采集出射光斑半径光谱分布,实现多光程长的互不相关的非线性光谱测量,同时,本发明对被测物体施加物理扰动信号,进而得到光程长和物理扰动信号为变量的被测物的多维光谱信息,进而提供更丰富的物质含量信息,提高物质成分分析精度。
搜索关键词: 散射 物质 多维 光谱 测量 装置 方法
【主权项】:
一种散射物质多维光谱测量装置,包括光源、样品池、出射光检测器和扰动装置,其特征在于:所述光源的入射位置是固定的,所述样品池位置是固定的、且截面为方形;所述出射光检测器是可移动的,所述光源射出并经样品池到出射光检测器所形成的光路是变化的;所述扰动装置为一用于对被测物施加物理扰动的物理扰动装置。
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