[发明专利]主机板电气测试结果数据分析方法无效
| 申请号： | 201010156289.8 | 申请日： | 2010-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN102236058A | 公开（公告）日： | 2011-11-09 |
| 发明（设计）人： | 颜晓华 | 申请（专利权）人： | 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 528308 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种主机板电气测试结果数据分析方法，其用以对ICT机台或BFT机台测试后的元件的不良数据进行分析，其中，该方法主要包括以下步骤：主机板经ICT机台或BFT机台测试后产生机台数据，将产生的机台数据按不良状况的印刷电路板序列号对应的不良数据分离出来；将分离出来的不良数据按不良状况分类，以获知产生不良状况的对应的不良时间及不良位置的数据，选择该数据并进行枢纽分析；选择产生二次不良状况的不良时间及不良位置的数据，并进行枢纽分析，并计算直通率。本发明自动对ICT机台或BFT机台测试后的元件的不良数据进行分析，不仅准确度得到保证，而且操作简便，有效节约了时间及人力。 | ||
| 搜索关键词： | 主机板 电气 测试 结果 数据 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种主机板电气测试结果数据分析方法，其用以对ICT机台或BFT机台测试后的主板的不良数据进行分析，其特征在于，该方法主要包括以下步骤：步骤a.主机板经ICT机台或BFT机台测试后产生机台数据，将产生的机台数据按不良状况的印刷电路板序列号对应的不良数据分离出来；步骤b.将分离出来的不良数据按不良状况分类，以获知产生不良状况的对应的不良时间及不良位置的数据，选择该数据并进行枢纽分析；步骤c.选择产生二次不良状况的不良时间及不良位置的数据，并进行枢纽分析，并计算直通率。
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