[发明专利]面板测试治具无效

专利信息
申请号: 201010158194.X 申请日: 2010-03-24
公开(公告)号: CN101840082A 公开(公告)日: 2010-09-22
发明(设计)人: 许翔;黄木通;刘玉涛 申请(专利权)人: 友达光电(厦门)有限公司;友达光电股份有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 361102 福建*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明是关于一种面板测试治具,包含基座、测试电路板、夹持组件、第一卡槽、探针组件以及第二卡槽。基座具有放置槽,测试电路板设置于放置槽中。夹持组件包括上盖板和下盖板,上盖板具有一抵压元件,上盖板枢接于下盖板的一侧边,下盖板可拆卸地设置于测试电路板上。第一卡槽用于容置面板的电路板,可拆卸地设置于测试电路板上。探针组件设置于测试电路板上并位于下盖板和第一卡槽之间。第二卡槽用于容置面板,可拆卸地设置于放置槽中。本发明通过可更换不同尺寸(或形状)的第一卡槽或第二卡槽来满足不同面板产品的需要,实现面板测试治具共用。
搜索关键词: 面板 测试
【主权项】:
一种面板测试治具,其特征在于,包含:基座,具有放置槽;测试电路板,设置于该放置槽中,用以提供面板的测试信号;夹持组件,包括上盖板和下盖板,该上盖板具有一抵压元件,该上盖板枢接于下盖板的一侧边,该下盖板可拆卸地设置于该测试电路板上;第一卡槽,具有第一凹槽,用于容置该面板的电路板,该第一卡槽可拆卸地设置于该测试电路板上;探针组件,包括探针座和探针,该探针组件设置于该测试电路板上并位于该下盖板和该第一卡槽之间;以及第二卡槽,具有第二凹槽,用于容置该面板,该第二卡槽可拆卸地设置于该放置槽中。
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