[发明专利]一种测量钢中残余奥氏体含量的方法

摘要

本发明涉及一种测量钢中残余奥氏体含量的方法，它的测量设备主要为X-射线衍射仪，其特征在于：包括以下步骤：步骤(1)、准备好块状钢铁材料试样和标样，该标样中不存在织构；除去试样和标样的表面残余应力；步骤(2)、实验的步骤；步骤(3)、根据步骤(2)测得的试样和标样的峰强度和左右两背底强度，计算得到试样中奥氏体含量。本发明方法能在常规的X-射线衍射仪上测定钢中残余奥氏体，且测量结果接近真值，误差小。

主权项

一种测量钢中残余奥氏体含量的方法，它的测量设备主要为X-射线衍射仪，其特征在于：包括以下步骤：步骤(1)、准备好块状钢铁材料试样，该试样中包含奥氏体和马氏体两个相，或包括奥氏体和铁素体两个相，同时还要准备块状纯马氏体或纯铁素体的标样，该标样中不存在织构；除去试样和标样的表面残余应力；步骤(2)、实验的步骤，具体为：步骤(2.1)、选取马氏体或铁素体的(200)、(211)、(220)、(321)、(400)、(411)、(422)、(440)和(433)九个衍射峰作为测试对象，将这九个衍射峰分成两组，第一组由(200)、(211)、(220)三个衍射峰组成，第二组由(321)、(400)、(411)、(422)、(440)和(433)六个衍射峰组成；步骤(2.2)、对X-射线衍射仪上的测角台进行初始化处理，使测角台的1θ轴和2θ轴都处在0度位置；步骤(2.3)、确定各衍射峰的2θ角位置及其左右两背底位置的步骤；步骤(2.3.1)、用CoKα辐射对标样进行扫描，得到标样的衍射图谱，并由此确定第一组中各衍射峰的2θ角位置及其左右两背底位置；步骤(2.3.2)、用MoKα辐射对标样进行扫描，得到标样的衍射图谱，并由此确定第二组中各衍射峰的2θ角位置及其左右两背底位置；步骤(2.4)、测量试样和标样的峰强度，具体为：步骤(2.4.1)、使测角台的1θ轴和2θ轴都处在0度位置，采用CoKα辐射测量第一组中的衍射峰，使测角台的1θ轴和2θ轴按1∶2的角速度耦合，根据步骤(2.3.1)得到的各衍射峰的2θ角位置，使2θ轴处于某个衍射峰的位置，分别放入试样和标样，固定2θ轴，然后让1θ轴采用单动扫描方式采集数据，得到该衍射峰的一系列不同角度下试样和标样的峰强度；步骤(2.4.2)、重复步骤(2.4.1)，区别在于：使2θ轴分别处于第一组中的其它两衍射峰的位置，分别得到两个衍射峰一系列不同角度下的试样和标样的峰强度；步骤(2.4.3)、采用MoKα辐射测量第二组衍射峰，重复步骤(2.4.1)，区别在于：根据步骤(2.3.2)得到的各衍射峰的2θ角位置，使2θ轴分别处于第二组中的各衍射峰的位置，分别得到各衍射峰的一系列不同角度下试样和标样的峰强度；步骤(2.5)、测量试样和标样的左右两背底强度，具体为：步骤(2.5.1)、使测角台的1θ轴和2θ轴都处在0度位置，采用CoKα辐射测量第一组中的衍射峰的左右两背底，使测角台的1θ轴和2θ轴按1∶2的角速度耦合，根据步骤(2.3.1)得到的各衍射峰的2θ角左右两背底位置，使2θ轴分别处于某个衍射峰的左右两背底位置，分别放入试样和标样，固定2θ轴，然后让1θ轴采用单动扫描方式采集数据，得到该衍射峰的一系列不同角度下试样和标样的左右两背底强度；步骤(2.5.2)、重复步骤(2.5.1)，区别在于：使2θ轴分别处于第一组中的其它两衍射峰的左右两背底位置，分别得到两个衍射峰的一系列不同角度下的试样和标样的左右两背底强度；步骤(2.5.3)、采用MoKα辐射测量第二组中的衍射峰的左右两背底，重复步骤(2.5.1)，区别在于：根据步骤(2.3.2)得到的各衍射峰的2θ角左右两背底位置，使2θ轴分别处于第二组中的各衍射峰的左右两背底位置，分别得到各衍射峰的一系列不同角度下试样和标样的左右两背底强度；步骤(3)、根据步骤(2)测得的试样和标样的峰强度和左右两背底强度，计算得到试样中奥氏体含量。