[发明专利]一种超声波探伤仪小管径探头校准方法无效
申请号: | 201010161316.0 | 申请日: | 2010-04-30 |
公开(公告)号: | CN101806779A | 公开(公告)日: | 2010-08-18 |
发明(设计)人: | 符丰 | 申请(专利权)人: | 符丰 |
主分类号: | G01N29/30 | 分类号: | G01N29/30 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 四川省成都市成华区*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种超声波探伤仪小管径探头校准方法,涉及一种仪器校准方法,一种超声波探伤仪小管径探头校准方法,包括一超声波探伤仪,依次包括步骤:制作校准用试块;使用外圆弧探头在试块半径R2弧弧面上点O1附近来回移动,得到半径R1弧回波声程S1,此时测量O1点到探头最前沿的距离,该距离即为探头前沿b,调整探头方向,使探头对准孔方向,继续得到孔回波声程S;按照数学模型得到探头内部声程a及探头K值:本发明弥补了现有技术对小管径探头校准K值,探头前沿b与探头内部声程a的空白,同时降低探头的损耗成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 超声波 探伤 仪小管径 探头 校准 方法 | ||
【主权项】:
一种超声波探伤仪小管径探头校准方法,包括一超声波探伤仪,其通过探头发射超声波进行工件探伤,其特征在于依次包括以下步骤:1)制作试块:取一材质的声学性能与被检工件相同的板材,在其上以O2点为圆心,以被检工件外圆半径R2画弧,以该弧中点O1为圆心,取半径R1画另一弧,再以两弧所包围区域内一点为圆心钻通孔,该孔直径为φ,该孔至半径R2弧的距离为h,且半径R2弧上过该孔的法线与该弧交点至O1弧长为该弧弧长的1/4,将两弧所包围区域以外部分铣掉既形成校准试块;2)使用外圆弧探头在试块半径R2弧弧面上点O1附近来回移动,直到超声波探伤仪上显示超声波在半径R1弧处产生最高反射波,得到回波声程S1,此时测量O1点到探头最前沿的距离,该距离即为探头前沿b,调整探头方向,使探头对准孔方向,继续移动外圆弧探头直到超声波探伤仪上显示超声波在孔处产生最高反射波,得到回波声程S;3)按照下述数学模型得到探头内部声程a及探头K值:探头内部声程a:a=S1-R1探头K值:β=COS-1[R22+(S+φ/2)2-(R2-h)2]/2R2(S+φ/2),tgβ=K。
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