[发明专利]一种有机半导体器件特性测量仪有效
| 申请号： | 201010162152.3 | 申请日： | 2010-04-04 |
| 公开（公告）号： | CN101881806A | 公开（公告）日： | 2010-11-10 |
| 发明（设计）人： | 彭应全;王颖 | 申请（专利权）人： | 兰州大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R19/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 730000 *** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 有机半导体器件的研究已非常广泛，对于其特征曲线的测量，目前大多使用原有针对无机半导体器件设计的仪器。与无机半导体器件相比，有机半导体器件不仅工作电压高，而且由于工作机制更复杂而使参数种类更多。因此使用现有测量仪器，不仅价格昂贵，而且很不方便。本发明涉及一种有机半导体器件的测量仪。有机半导体器件测量仪包括数据采集板组、高输出电压直流放大电路、电流放大电路、放大倍数自动调节电压放大电路和程控限流电路。测量仪不仅适用于有机半导体器件，也适用于传统无机半导体器件的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 有机 半导体器件 特性 测量仪 | ||
【主权项】：
一种适用于有机半导体和无机半导体器件参数测量的测量仪，它包括数据采集板组、叁个高输出电压直流放大电路、叁个电流放大电路、两个放大倍数自动调节电压放大电路和叁个程控限流电路组成。
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