[发明专利]一种电化学沉积铜锌锡硒半导体薄膜材料的方法有效
申请号: | 201010163405.9 | 申请日: | 2010-05-06 |
公开(公告)号: | CN101824638A | 公开(公告)日: | 2010-09-08 |
发明(设计)人: | 刘萍 | 申请(专利权)人: | 深圳丹邦投资集团有限公司 |
主分类号: | C25D7/12 | 分类号: | C25D7/12 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 518057 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种电化学沉积铜锌锡硒半导体薄膜材料的方法:先在基底上阴极恒电位电沉积含Cu、Zn、Sn、Se的预制层,再对预制层进行热处理,最终生成铜锌锡硒半导体薄膜。本发明方法克服了传统PVD法或CVD法成本高昂、难于大规模生产等不足,具有镀层化学成分可控、形貌优良、成本低廉,以及易于实现大面积沉积和大规模应用等特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 电化学 沉积 铜锌锡硒 半导体 薄膜 材料 方法 | ||
【主权项】:
一种电化学沉积铜锌锡硒半导体薄膜材料的方法,其特征在于:先在含有铜、锌、锡和硒离子的电沉积溶液中,采用阴极恒电位沉积的方法在基底上沉积含铜、铟、镓和硒的预制层CuZnaSnbSec,a=0~1,b=0~1,c=0~4;其中,电沉积溶液温度为20~80℃,沉积时间为5~300分钟,阴极沉积电位为-3.0~-0.1Vvs.SCE;然后将预制层置于真空、空气、氩气或氮气中,在250~750℃温度下热处理0.1~4.5小时,最终生成铜锌锡硒薄膜。
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