[发明专利]一种非接触式超导带材载流能力测量装置有效

专利信息
申请号: 201010163715.0 申请日: 2010-04-29
公开(公告)号: CN101833027A 公开(公告)日: 2010-09-15
发明(设计)人: 顾晨;瞿体明;韩征和;邹圣楠 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 朱印康
地址: 100084 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于超导电工学领域,特别涉及一种非接触式超导带材载流能力测量装置。本发明基于单磁路法的电流传输性能连续测量方法,探测磁路垂直固定在基座上,探测磁路的铁芯、样品狭缝、测量狭缝和励磁线圈构成闭合探测磁路。在液氮低温条件下,励磁线圈通电在样品狭缝和测量狭缝处产生一个固定磁场,将样品通过样品狭缝,样品内感生环形电流,在测量狭缝测量环形电流反向驱动探测磁路产生的磁感应强度的变化反映带材的电流载流能力。本发明的单磁路装置与双磁路装置具有同样的高速和重复性好的优点,还可以测量带材在不同外加磁场下,不同磁场穿透情况的带材载流性能,特别适合连续测量超长超导带材载流能力。
搜索关键词: 一种 接触 超导 带材载流 能力 测量 装置
【主权项】:
一种非接触式超导带材载流能力测量装置,其特征在于,探测磁路垂直固定在基座(10)上,探测磁路包括铁芯(1)、励磁线圈(2)、样品狭缝(3)和测量狭缝(4),安装在基座(10)上的第一导轮(7)和第二导轮(8)配合液氮容器(9)外部的放线设备和收线设备组成超导带材连续传动装置,第一导轮(7)和第二导轮(8)分别置于探测磁路两侧,第一导轮(7)、样品狭缝(3)和第二导轮(8)在同一条直线上,高温超导带材的样品(6)从外部的放线设备经过第一导轮(7)导向穿过样品狭缝(3)后再经过第二导轮(8)导向传送到外部收线设备,样品运动方向(11)从第一导轮(7)指向第二导轮(8);基座(10)置于液氮容器(9)的底部,装置工作时探测磁路和样品(6)均浸泡在液氮里;所述探测磁路中励磁线圈(2)缠绕在铁芯(1)上,探测磁路的铁芯(1)、样品狭缝(3)和测量狭缝(4)构成闭合磁路,测量磁感应强度的磁场探头(5)置于测量狭缝(4)内。
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