[发明专利]X射线诊断装置及其方法有效

专利信息
申请号: 201010164352.2 申请日: 2010-04-09
公开(公告)号: CN101856239A 公开(公告)日: 2010-10-13
发明(设计)人: 大石悟 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 徐冰冰;黄剑锋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种X射线诊断装置具备:CT图像投影部,以与取得X射线的第1灌流图像的向被检体的投影方向相同的方向,对通过计算机断层摄影法取得的第2灌流图像进行投影,从而取得第3灌流图像;对位部,对上述第1灌流图像和上述第3灌流图像进行对位并求出对位信息;灌流指标计算部,根据上述第1灌流图像计算第1灌流指标,根据上述第3灌流图像计算第2灌流指标;以及比较指标计算部,以通过上述对位单元求出的上述对位信息为基础,对上述第1灌流指标和上述第2灌流指标进行比较,计算基于上述第1灌流指标和上述第2灌流指标的比较指标。
搜索关键词: 射线 诊断 装置 及其 方法
【主权项】:
一种X射线诊断装置,其特征在于,具备:CT图像投影部,以与取得X射线的第1灌流图像的向被检体的投影方向相同的方向,对通过计算机断层摄影法取得的第2灌流图像进行投影,从而取得第3灌流图像;对位部,进行上述第1灌流图像和上述第3灌流图像的对位并求出对位信息;灌流指标计算部,根据上述第1灌流图像计算第1灌流指标,根据上述第3灌流图像计算第2灌流指标;以及比较指标计算部,以通过上述对位单元求出的上述对位信息为基础,对上述第1灌流指标和上述第2灌流指标进行比较,计算基于上述第1灌流指标和上述第2灌流指标的比较指标。
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