[发明专利]测试装置无效

专利信息
申请号: 201010164560.2 申请日: 2010-04-16
公开(公告)号: CN102221454A 公开(公告)日: 2011-10-19
发明(设计)人: 许乃仁;戴宝华;陈彦志;刘佩芬 申请(专利权)人: 英业达股份有限公司
主分类号: G01M13/00 分类号: G01M13/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 刘芳
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种测试装置,适用于测试一电子装置,此电子装置具有一第一机体与一第二机体,且第一机体适于相对第二机体旋转。前述测试装置包括一承载平台、一固定框架、一夹持件、一第一驱动元件及一第二驱动元件,其中承载平台用以承载第一机体,固定框架枢设于承载平台,夹持件枢设于固定框架,用以夹持第二机体。第一驱动元件设置于承载平台与固定框架之间,用以带动固定框架相对该承载平台枢转;第二驱动元件,设置于夹持件与固定框架之间,用以带动夹持件相对固定框架枢转。
搜索关键词: 测试 装置
【主权项】:
一种测试装置,适用于测试一电子装置,该电子装置具有一第一机体与一第二机体,且该第一机体适于相对该第二机体旋转,该测试装置包括:一承载平台,用以承载该第一机体;一固定框架,枢设于该承载平台;一夹持件,枢设于该固定框架,用以夹持该第二机体;一第一驱动元件,设置于该承载平台与该固定框架之间,用以带动该固定框架相对该承载平台枢转;以及一第二驱动元件,设置于该夹持件与该固定框架之间,用以带动该夹持件相对该固定框架枢转。
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